测试座、分选机、芯片测试系统及其点检方法

本申请涉及一种测试座、分选机、芯片测试系统及其点检方法。该测试座包括测试工位以及标准芯片位，所述标准芯片位靠近所述测试工位，用于在芯片测试之前，放置点检测试芯片，以便于机械手将所述点检测试芯片从所述标准芯片位转移到所述测试工位。采用本测试座能够提高点检过程中芯片测试系统的自动化程度。