一种基于改进YOLOv5的变电设备外部缺陷检测方法

本发明涉及图像处理技术领域，公开了一种基于改进YOLOv5的变电设备外部缺陷检测方法。用几何变换与像素变换、背景替换等方式，扩充数据集，提高模型泛化能力。同时针对现有的缺陷检测算法不够轻量化，识别精度低等问题对YOLOv5算法进行改进，提出一种轻量化的设备缺陷检测算法Light‑defect‑YOLOv5。改进后的算法模型参数量减少了20.8％，计算量减少了38％，mAP值提高了1.2％，在保证轻量化的同时提升检测精度，提高了复杂背景下特征提取能力。