用于芯片测试和新功能开发的测试板组合及其测试方法

本申请公开了一种用于芯片测试和新功能开发的测试板组合及其测试方法，测试板组合包括至少一个测试板和底板，测试板具有独立测试功能，测试板的一侧形成有插接部，插接部形成有若干金手指，其中至少部分金手指用于传输高速信号，底板包括测试板插槽、多个高速信号扩展接口以及第一电源接口，插接部用于插接至测试板插槽并通过金手指电连接，高速信号扩展接口用于插入外设进行扩展测试，第一电源接口用于供电至底板。本申请解决了传统只是单独利用测试板进行芯片硅后测试时，测试功能较为单一，使用场景受到限制的技术问题，可以将功能测试、电气测试、筛片测试等通过不同组合灵活实现，有效扩展测试功能和使用场景，提升测试效率以及降低研发成本。