芯片测试方法、装置及存储介质

本公开实施例公开了一种芯片测试方法、装置及存储介质。通过获取多个测试项中具有延迟分类标记的目标测试项，所述多个测试项用于测试待测对象；针对具有所述延迟分类标记的目标测试项，基于任一项所述目标测试项对所述待测对象进行测试得到目标测试结果；响应于测试得到最后一项目标测试项对应的目标测试结果，基于多个所述目标测试项对应的多个所述目标测试结果对所述待测对象进行分类，得到所述待测对象的分类结果，可提高对待测对象分类的准确性，得到更灵活细致的分类结果，有助于提高对待测对象筛选的准确性。