转子位置角度的校验方法、装置、芯片及电子设备

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转子位置角度的校验方法、装置、芯片及电子设备
申请号:CN202411579592
申请日期:2024-11-06
公开号:CN119123952B
公开日期:2025-01-17
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种转子位置角度的校验方法、装置、芯片及电子设备,校验方法通过硬件设置的三角函数硬件计算器和数字锁相环计算旋转变压器的转子位置角度;校验方法包括:通过三角函数硬件计算器确定第一正余弦波形数据的第一转子位置角度,其中,第一正余弦波形数据包括第一正弦波形数据和第一余弦波形数据;通过数字锁相环确定第二正余弦波形数据的第二转子位置角度,其中,第二正余弦波形数据与第一正余弦波形数据为相同数据;根据预定延迟时间检测第二转子位置角度与第一转子位置角度是否匹配;在不匹配的情况下,确定按照预定输出要求输出的转子位置角度为不准确的转子位置角度,并生成报警数据。
技术关键词
转子 数字锁相环 预定延迟时间 校验方法 旋转变压器 波形 计算器 数据 校验装置 模拟采样系统 正弦波 观测器 解调器 电子设备 加速度 存储器 匹配模块 处理器 芯片
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