抛光终点检测方法、装置、电子设备及存储介质

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抛光终点检测方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202411585590
申请日期:2024-11-08
公开号:CN119115781B
公开日期:2025-01-28
类型:发明专利
摘要
本申请实施例公开了一种抛光终点检测方法、装置、电子设备及存储介质,应用于化学机械抛光设备,该化学机械抛光设备包括驱动电机及抛光盘,驱动电机用于驱动抛光盘旋转,该方法包括:在对晶圆进行化学机械抛光的过程中,采集驱动电机驱动抛光盘旋转预设圈数对应的扭矩信号;根据扭矩信号提取扭矩特征,得到扭矩特征集合;该扭矩特征集合包括扭矩信号对应的频域特征、时域特征以及时频域特征中的至少一个;通过抛光终点检测模型对扭矩特征集合进行分析,确定抛光终点检测结果,该抛光终点检测结果用于表征是否到达抛光终点,从而能够在对晶圆进行化学机械抛光的过程中,准确地识别是否到达抛光终点,提高了抛光终点检测的准确性。
技术关键词
组合特征向量 频域特征 机械抛光设备 抛光终点检测方法 时域特征 抛光盘 信号 可执行程序代码 训练集 数据 标签 终点检测装置 通道 检测模型训练 电子设备 可读存储介质
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