一种适用于提高MCU自检覆盖率的方法及系统

本发明涉及MCU自检技术领域，具体涉及一种适用于提高MCU自检覆盖率的方法及系统，包括以下步骤：评估MCU模块特性与功能，设定输入输出向量，选择自检组合模块；上电复位，BootROM跳转至Flash自检程序，测试自检组合模块；配置X‑BAY，启动输入输出及组合测试，配置回环模式，启动回环测试；配置模拟通道选择开关电路，启动ADC与DAC及其他模拟通道的组合测试；通过串口获取测试结果。本发明模块自检灵活、可靠、覆盖率高，无需额外硬件支持，可单芯片自检，不影响外围电路，集成软硬件，提供可靠性与安全性，降低用户开发难度。