摘要
本发明实施例公开了一种环境温度的调节方法、装置、电子设备及存储介质,涉及芯片测试技术领域。该方法应用于温度调节系统,系统包括:多个测试设备,每个测试设备包含至少一个温度量测点,各测试设备部署在同一厂房内且各测试设备的安装方向不同,厂房包含多个出风口:方法包括:响应于目标温度量测点的温度异常指令,分别确定各参考出风口以及各参考温度量测点;分别确定各参考出风口与目标温度量测点的目标距离,以及各参考温度量测点的当前温度与预警温度的温度偏差;根据各目标距离、各温度偏差以及目标测试设备的安装方向对各参考出风口的温度和/或风速进行调节。本发明实施例的方案,可以实现对环境温度的快速且准确的调节。
技术关键词
测试设备
温度调节系统
集成电路芯片
偏差
风速
厂房
芯片测试技术
电子设备
指令
可读存储介质
测量点
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