一种手绘纳米涂层画布制备的表面缺陷检测方法

本发明涉及图像数据处理技术领域，更具体地，本发明涉及一种手绘纳米涂层画布制备的表面缺陷检测方法，方法包括：通过画布图像边缘中像素点的梯度方向确定像素点的参考方向和边缘的参考方向；通过边缘中各像素点的切线方向与边缘的参考方向之间的偏离程度，得到边缘的方向异常程度；通过边缘与左右两侧相邻像素点之间的灰度差异，得到边缘的灰度异常程度；通过最小二乘法拟合边缘得到边缘的决定系数，计算边缘的异常程度；通过边缘的异常程度对画布图像边缘中各像素点的灰度值进行伽马变化调整后输入预先训练的画布缺陷识别模型，得到画布图像的缺陷检测结果，有效地提高手绘纳米涂层画布制备的表面缺陷检测的准确性。