预测剩余可刺激次数的自校正方法、系统、设备及存储介质

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预测剩余可刺激次数的自校正方法、系统、设备及存储介质
申请号:CN202411590169
申请日期:2024-11-08
公开号:CN119517351A
公开日期:2025-02-25
类型:发明专利
摘要
本发明公开预测剩余可刺激次数的自校正方法、系统、设备及存储介质,该预测剩余可刺激次数的自校正方法事先获取设备在应用标准方案后的运行数据,接收用户方案并计算设备的实际刺激数据,利用预测算法得到预测剩余可刺激次数,若次数不足以完成用户方案,则采用校正算法计算校正系数并以图像展示,根据校正系数要求用户调整方案并重新执行上述计算设备的实际刺激数据以及之后的步骤,直至能够连续完成用户方案,实现了用户在实际使用的过程中,实时对预测剩余可刺激次数的自校正,降低预测的误差。
技术关键词
校正方法 校正设备 校正算法 设备运行数据 记录设备 可读存储介质 校正系统 存储器 处理器 校正模块 图像 计算机 周期性 指令 脉冲 线路
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