一种包覆纱表面缺陷检测方法及系统

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一种包覆纱表面缺陷检测方法及系统
申请号:CN202411595404
申请日期:2024-11-11
公开号:CN119151904A
公开日期:2024-12-17
类型:发明专利
摘要
本发明涉及鞋袜产品技术领域,具体为一种包覆纱表面缺陷检测方法及系统。首先,采集复合光栅图像,投影到包覆纱表面获取光强函数;基于光强函数得到包裹相位。其次,采用优化MSE算法进行初步解包裹,获得相位数据;使用傅里叶变换处理进行相位恢复;根据相位差进行相位调整,获得展开相位;获得展开相位对应的相位分布,与预期相位分布进行误差计算,调整相位值,获得相位展开数据。然后,使用非线性模型计算绝对相位;计算绝对相位中数据的梯度,根据梯度的大小和方向计算梯度的幅值,应用阈值处理确定缺陷的位置。最后,对缺陷图像进行形态学后处理,提取缺陷,实现包覆纱表面缺陷的检测。本发明能够提升包覆纱表面缺陷检测的准确率和效率。
技术关键词
复合光栅 包覆纱 表面缺陷检测方法 表面缺陷检测系统 包裹相位 傅里叶变换处理 图案 梯度方法 光强 图像 数据 锯齿效应 正弦光栅 机器学习算法 多尺度 缺陷检测单元 抗锯齿 误差
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