多模型投票的表面缺陷检测方法、装置、设备和存储介质

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多模型投票的表面缺陷检测方法、装置、设备和存储介质
申请号:CN202411596354
申请日期:2024-11-11
公开号:CN119445250B
公开日期:2025-10-31
类型:发明专利
摘要
本申请公开多模型投票的表面缺陷检测方法、装置、设备和存储介质,涉及模型检测领域。将待测图片输入至多模型检测系统,输出各模型对应的推理结果;根据待测图像尺寸和图像中的目标类型确定缺陷分类,根据缺陷分类依次创建缺陷掩模图;根据缺陷分类依次选定目标缺陷掩模图,基于对应的缺陷类型将目标模型输出的推理结果映射至目标缺陷掩模图,根据映射后的目标缺陷掩模图对待测图片中的目标缺陷进行缺陷标定。该方案可以融合多模型多维度的检测结果,根据投票结果来过滤缺陷识别结果,得到的缺陷识别结果精度更高。
技术关键词
表面缺陷检测方法 掩模 模型检测系统 待测图片 缺陷尺寸 矩阵 多模型 像素点 表面缺陷检测装置 坐标 标签 图片标定 物体 计算机设备 可读存储介质 识别缺陷 极值 程序
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