一种陶瓷基板的缺陷检测方法及系统

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一种陶瓷基板的缺陷检测方法及系统
申请号:CN202411597660
申请日期:2024-11-11
公开号:CN119335046A
公开日期:2025-01-21
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种陶瓷基板的缺陷检测方法及系统,包括:基于成像装置采集待检测陶瓷基板的外观图像,并对外观图像进行预处理和分析,确定可疑区域;基于超声波扫描从多角度对可疑区域进行内部扫描,并对内部扫描后的超声波回波信号进行动态接收和分析,确定待检测陶瓷基板的缺陷特征;对待检测陶瓷基板的缺陷特征进行记录和分类,并基于记录和分类结果对待检测陶瓷基板的缺陷进行标注展示。通过对待检测陶瓷基板的表面和内部的结合检测,提高了对陶瓷基板缺陷检测的效率和准确性,保障了陶瓷基板的工作性能和可靠性。
技术关键词
陶瓷基板 超声波回波信号 缺陷检测方法 超声波扫描 控制成像装置 回波信号强度 超声波发射器 多角度 时间序列信息 检测平台 缺陷检测系统 分布特征 像素 坐标 图像采集单元 生成超声 机器学习模型
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