应用于电子工程中高Sigma场景的失效区域评估方法

本发明属于电子工程中评估稀有事件的方法领域，具体涉及一种应用于电子工程中高Sigma场景的失效区域评估方法。应用于电子工程中高Sigma场景的失效区域评估方法，包括以下步骤：建立初始样本、建立预测模型、筛选高风险样本、仿真高风险样本并计算偏移量Δd，确定接近失效区域样本、次接近失效区域样本和普通区域样本，对三个区域的样本利用公式计算斯皮尔曼秩系数，并分别赋予不同的权重，通过计算最终的加权秩相关性评估结果。该评估方法通过加权秩相关评估替代模型的排序功能在高Sigma失效区域的排序表现上显著提升精度；并且大大减少了不必要的仿真次数，节省计算资源。