一种基于牛顿环检测的光学组件中心偏差测量方法

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一种基于牛顿环检测的光学组件中心偏差测量方法
申请号:CN202411606776
申请日期:2024-11-12
公开号:CN119131031B
公开日期:2025-02-11
类型:发明专利
摘要
本发明涉及图像处理技术领域,具体是一种基于牛顿环检测的光学组件中心偏差测量方法。本发明通过多角度分段测量图像的灰度及灰度峰值点坐标、计算均匀距离点、对牛顿环图像进行自适应二值化、对二值化图像应用掩膜计算、圆形拟合与迭代等步骤,进而能够有效提升牛顿环中心定位的准确性和处理速度。此方法不仅适用于实验室环境,还可应用于工业检测和现场测量,具有广泛的应用前景。
技术关键词
牛顿环 偏差测量方法 射线 图像 光学组件 掩膜 列表 白色像素点 间距 同心度 寻峰算法 坐标系 滑动窗口 版图 网格 二值化阈值 误差 依序
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