应用芯片测试数据的芯片运行仿真系统

本发明公开了应用芯片测试数据的芯片运行仿真系统，涉及芯片运行仿真技术领域，有效地提高了芯片仿真运行测试的准确率。本发明根据各个芯片测试指令的历史测试数据集获得各个运行部件节点的多种运行数据区间，获取各个运行部件节点之间各个运行数据区间的交替概率，进而根据各个运行部件节点之间的交替概率建立动态运行状态迁移网络，将实时芯片测试指令输入至动态运行状态迁移网络匹配运行部件节点路径，根据匹配结果将实时测试数据输入至部件分布结构树和目标芯片进行多次运行仿真模拟获得实时测试数据集和实际测试数据集，根据实际测试数据集与实时测试数据集之间的相似度，判断是否对动态运行状态迁移网络进行修正。