一种MEMS芯片结构及刻蚀方法

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一种MEMS芯片结构及刻蚀方法
申请号:CN202411614874
申请日期:2024-11-13
公开号:CN119503720B
公开日期:2025-08-22
类型:发明专利
摘要
本发明涉及半导体MEMS芯片工艺技术领域,尤其涉及一种MEMS芯片结构及刻蚀方法,芯片结构包括石英,石英表面形成金属Cr,在金属Cr表面形成无机化合物,无机化合物在金属Cr上形成掩膜;刻蚀方法包括以下步骤:在金属Cr上生长无机化合物后,首先光刻蚀部分无机化合物,形成刻蚀槽,然后利用剩余无机化合物干法刻蚀金属Cr,最后采用湿法将余硅泡掉。本发明MEMS芯片结构及刻蚀方法,在金属Cr上生成一层无机化合物作为掩膜,对金属Cr进行干法刻蚀时,氯气和氧气与无机化合物不会发生反应,可以消除金属层产生的阳角,尽量保证角度垂直,有利于获取高精度的MEMS芯片。
技术关键词
无机化合物 MEMS芯片结构 刻蚀方法 氧化硅 掩膜 石英 湿法工艺 光刻工艺 氯气 双层结构 氧气 半导体 气体
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