生成可测试性设计架构的方法、装置、设备及存储介质

本公开提供了一种生成可测试性设计架构的方法、装置、设备及存储介质，属于可测性设计技术领域，该生成可测试性设计架构的方法包括：获取待测芯片设计规划中的项目信息；将项目信息解析为标准数据结构的可测试性设计DFT架构规划数据；从DFT架构规划数据中，按照模块层级结构获取模块数据并规划得到DFT架构。本公开中，根据待测芯片设计过程中的项目信息，解析得到需要的DFT架构规划数据，进而再根据各个模块的层级结构，自动规划出DFT架构，无需依赖人工经验，从而提升了设计效率且降低了出错率。