一种基于多色光DIP板预处理和缺陷分类的方法

本发明公开了一种基于多色光DIP板预处理和缺陷分类的方法，包括以下步骤：S1、先确定预期的性能指标，评估当前人工检测和基于计算机视觉的缺陷检测方法的现状，分析这些方法存在的主要问题，列出项目需要解决的技术问题，如提高图像质量、增强缺陷区域对比度、提高检测精度等，评估技术方案的可行性，并考虑成本、技术难度和所需时间；S2、设计系统的总体架构，确定主要模块，包括图像采集模块、色彩归一化模块、图像预处理模块、特征提取模块和缺陷分类模块，详细定义每个模块的具体功能和输入输出，选择适合的硬件，并选择或开发适配的软件工具。本发明易于实现和扩展，能够适应不同规格和类型的DIP芯片板检测需求，具有良好的通用性和灵活性。