便于安拆芯片的芯片固定装置及芯片测试座

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便于安拆芯片的芯片固定装置及芯片测试座
申请号:CN202411626311
申请日期:2024-11-14
公开号:CN119147800B
公开日期:2025-04-04
类型:发明专利
摘要
本发明涉及芯片测试装置技术领域,具体为一种便于安拆芯片的芯片固定装置及芯片测试座,包括连接座、按压机构、翘杆、固定座和基座,连接座的底板上设有多个导向滑孔,翘杆包括水平部和弯起的翘起部,翘杆的弯起点转动在导向滑孔内,且翘杆的弯起点沿导向滑孔滑动,固定座包括导向框和接触板,接触板滑动在导向框内,翘杆水平部的自由端滑动在接触板的下表面上,且翘杆水平部的自由端与接触板相对转动,翘杆翘起部的自由端铰接于按压机构中按压板的下表面,基座上表面上设有多个连接孔,连接杆插入连接孔内。解决了在采用现有的芯片测试座对芯片测试完毕后,由于其解锁件位于芯片上方,在取出芯片时,芯片可能会受到解锁件干扰的问题。
技术关键词
芯片固定装置 芯片测试座 接触板 角板 按压机构 自由端 斜面 芯片测试装置 滑槽 基座 滑杆 底板 压块 弧面 滑板 顶杆 管状结构 弹簧 解锁
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