缺陷检测模型构建方法、装置、电子设备及存储介质

本发明公开了一种缺陷检测模型构建方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取多个训练样本；其中，训练样本包括铜排链样本图像以及与铜排链样本图像对应的真实缺陷标识；根据特征提取子模型和特征降维子模型对铜排链样本图像进行处理，得到待处理特征，并基于待处理特征更新训练样本；基于深度学习子模型对训练样本进行处理，以得到第三损失值；基于第三损失值修正模型参数，以得到分类子模型；基于特征提取子模型、特征降维子模型和分类子模型构建缺陷检测模型，以基于缺陷检测模型对待处理铜排链图像进行铜排链表面缺陷检测。本技术方案，基于训练样本和多种算法训练得到缺陷检测模型，以提高缺陷检测模型的模型性能和泛化能力的效果。