一种基于光学衍射的线径测量方法

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正文
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一种基于光学衍射的线径测量方法
申请号:CN202411635808
申请日期:2024-11-15
公开号:CN119468948A
公开日期:2025-02-18
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于光学衍射的线径测量方法,其包括:获取待测细丝的光学衍射图像;将所述光学衍射图像经模数转换采样,生成第一波形信号;从所述第一波形信号中提取有效波段,生成第二波形信号;对所述第二波形信号进行去噪处理,生成第三波形信号;在所述第三波形信号中寻找各个波谷的位置,并计算相邻波谷之间的间距,得到多个对应于暗纹间距的波谷间距;根据所述波谷间距与细丝线径的关系,确定细丝线径。该测量方法能够对细丝的线径进行测量。
技术关键词
测量方法 波形 滤波算法 信号 间距 丝线 细丝 滑动窗口算法 数据 递推方式 图像 方程 索引 关系 逻辑
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