测试缺陷推荐方法、装置及电子设备、计算机程序产品

本申请公开了一种测试缺陷推荐方法、装置及电子设备、计算机程序产品，该方法包括：获取用户的测试缺陷描述信息并对进行短文本分析，得到短文本分析结果，短文本分析结果包括测试缺陷描述信息中包含的缺陷关键词；根据短文本分析结果在测试缺陷数据库中进行检索，得到候选测试缺陷检索结果；基于测试缺陷数据库对候选测试缺陷检索结果中的各个候选测试缺陷进行分析，生成各个候选测试缺陷的推荐权重；根据用户历史行为分析数据和候选测试缺陷的推荐权重推荐测试缺陷。本申请利用短文本分析和缺陷数据检索技术匹配用户可能遇到的缺陷，提高了测试缺陷推荐的精准性和针对性，有效挖掘了历史测试缺陷价值，为缺陷再利用开拓了更多应用场景。