一种基于改进Yolov8m的绝缘子缺陷检测方法及装置

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一种基于改进Yolov8m的绝缘子缺陷检测方法及装置
申请号:CN202411645041
申请日期:2024-11-18
公开号:CN119418040A
公开日期:2025-02-11
类型:发明专利
摘要
本发明涉及缺陷检测技术领域,公开了一种基于改进Yolov8m的绝缘子缺陷检测方法及装置,包括如下步骤:对绝缘子检测数据集进行处理并划分;通过在Yolov8m中增加坐标注意力机制和特征通道混洗操作,建立改进Yolov8m的绝缘子缺陷检测模型;利用训练集对改进模型进行训练,得到目标检测模型;将测试集样本输入所述目标检测模型进行缺陷检测,并对结果进行评价。构建了一种轻量级的绝缘子缺陷检测模型,从中加入坐标注意力机制(CAM)和特征通道混洗操作(CSO)的YOLO,在减少冗余信息的同时,充分增强了低层细节特征和高层定位特征,实现深层信息和浅层信息的融合,提高了目标检测的准确性。
技术关键词
绝缘子缺陷 注意力机制 YOLO模型 卷积特征提取 缺陷检测技术 坐标 模型训练模块 定位特征 通道 数据 样本 多尺度 基础 冗余 策略 算法 图像
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