运算放大器的加速退化试验设计及可靠性评估方法及系统

本发明提供了一种运算放大器的加速退化试验设计及可靠性评估方法及系统，涉及运算放大器可靠性测试与可靠性评估技术领域，该方法为进行运算放大器失效机理分析，研究应力因素对运算放大器性能指标的影响，确定其退化趋势；测试各性能参数的退化行为，确定最敏感的退化参数；设置不同的温度应力水平和测试间隔，记录退化数据；通过优化加速退化试验方案，并依据设定的目标函数最小化渐进方差；使用多元回归分析和Copula函数对多个敏感参数进行退化建模；通过AIC准则选取最优Copula函数，完成运算放大器的可靠性评估，并基于测试数据生成运算放大器的可靠度曲线。本发明解决了试验的有效性和可靠性评估的准确性难以提高的问题。