一种芯片检测设备

本发明公开了一种芯片检测设备包括：架体，架体配置有上料输送线、补料输送线、下料输送线和废料输送线；检测组件，能够对上料输送线输送的芯片进行拍照检测，且能够对下料输送线输送的芯片拍照检测；翻转组件，被配置在架体于上料输送线的末端，能够将上料输送线输送的芯片进行翻面并搬运至下料输送线；筛选组件，被配置在架体，当下料输送线输送的芯片的背面或正面存在受损时，筛选组件能够将下料输送线所输送的芯片搬运至废料输送线上，并将补料输送线上的芯片搬运至下料输送线以填补空缺；本发明可解决传统的芯片检测设备对芯片正面检测完成后，难以将装载芯片的料盘进行翻转以检测芯片背面，存在检测效率低、检测设备间配合度较差的问题。