一种SiP微系统芯片内部单粒子故障传输测试方法

本发明公开了一种SiP微系统芯片内部单粒子故障传输测试方法，属于集成电路单粒子效应测试技术领域。本发明方法通过对SiP核心处理芯片FPGA的各关键节点和SiP单粒子软错误传输路径分析，通过仿真进行FPGA敏感模块的单粒子检测，得到FPGA在不同工作模式下产生的单粒子故障对SiP器件工作状态的影响，以及FPGA芯片各敏感模块的单粒子翻转和单粒子功能中断的试验数据，计算得到FPGA各敏感模块的单粒子截面，解决了SiP单粒子效应地面测试不准确、故障传输路径和数据难以获得的问题，为SiP单粒子地面模拟试验提供了依据。