PCB电路板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

本发明涉及图像处理技术领域，公开了一种PCB电路板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，所述方法包括获取PCB电路板图像数据；将所述PCB电路板图像数据输入到预先训练完成的多光源同步成像模型，得到多光源融合图像；对所述多光源融合图像进行图像优化处理，得到降噪灰度图像；根据所述降噪灰度图像，进行区域划分和特征提取操作，得到各区域特征；将所述各区域特征输入到预先训练完成的多尺度动态缺陷检测模型，得到PCB缺陷检测情况。本方法具有以下效果：通过多光源同步成像模型的应用，有效减少了单一光源成像条件下的阴影、反光等影响，提高了图像的清晰度和细节呈现，提升了检测系统的环境适应性和检测精度。