一种基于透射电镜图像的单成分大气颗粒厚度测量方法

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一种基于透射电镜图像的单成分大气颗粒厚度测量方法
申请号:CN202411653740
申请日期:2024-11-19
公开号:CN119394196B
公开日期:2025-09-12
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种基于透射电镜图像的单成分大气颗粒厚度测量方法。该方法包括如下步骤:S1.制造标准颗粒参照组,对大气中待测颗粒物进行采集,获取标准颗粒以及待测颗粒的TEM图像;S2.采用ImageJ分析透射电镜图像,得到基准灰度值;S3.获取标准颗粒不同粒径灰度,除去基准灰度值后取绝对值;S4.建立标准颗粒粒径与灰度绝对值的函数关系;S5.对待测颗粒物进行分区,并计算分区内颗粒灰度值去除基准灰度值后的绝对值;S6.将各分区内颗粒灰度值绝对值代入标准颗粒粒径与灰度绝对值的函数中,计算得到各分区颗粒的厚度。本发明通过将颗粒物TEM图像灰度值变化与不同粒径标准颗粒相关联,进而可快速便捷地获取单成分大气颗粒厚度。
技术关键词
厚度测量方法 单颗粒采样器 碳膜 函数关系曲线 球形颗粒 表面微观结构 透射电子显微镜 基准 二氧化硅颗粒 扩散器 图像灰度值 绘图工具 分区 三维模型 灰尘 计算方法 线性 气流
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