一种晶圆缺陷自动检测装置及方法

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一种晶圆缺陷自动检测装置及方法
申请号:CN202411670998
申请日期:2024-11-21
公开号:CN119164970A
公开日期:2024-12-20
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种晶圆缺陷自动检测装置,包括片盒加载单元、晶圆移动单元、缺陷检测单元和数据处理单元,片盒加载单元用于控制片盒仓门的开闭,晶圆移动单元包括机械臂,用于控制晶圆移动,缺陷检测单元包括边缘检测单元和表面检测单元,边缘检测单元包括共用载台、寻边模块和检测模块,共用载台设有固定夹具,寻边模块包括寻边传感器,检测模块包括第一检测模块、第二检测模块和第三检测模块,第一检测模块用于晶圆边缘凹槽区域缺陷检测,第二检测模块用于晶圆边缘倒角区域的缺陷检测,第三检测模块用于晶圆边缘向内预设区域的缺陷检测,数据处理单元与片盒加载单元、晶圆移动单元、缺陷检测单元相连接。本申请还公开一种晶圆缺陷自动检测方法。
技术关键词
缺陷自动检测装置 晶圆缺陷自动检测 缺陷检测单元 共用载台 边缘检测单元 加载单元 数据处理单元 相机组件 支撑系统 光源组件 移动单元 模块 机械臂 上光源 凸透镜 夹具 传感器
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