一种基于压痕的瓦楞纸质量检测方法、介质、设备

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一种基于压痕的瓦楞纸质量检测方法、介质、设备
申请号:CN202411671386
申请日期:2024-11-21
公开号:CN119164960B
公开日期:2025-03-25
类型:发明专利
摘要
本发明为一种基于压痕的瓦楞纸质量检测方法,包括如下步骤:获取待测瓦楞纸正反面图像,记为第一图像和第二图像,根据第一图像和第二图像定位压痕缺陷特征;S200、定位压痕缺陷特征后,移动线阵CCD相机至待测压痕缺陷特征上方,采集压痕缺陷图像,对压痕缺陷特征图像进行二值化处理,提取标准图像质心阵列,比对点阵的偏移量和偏转角并确定压痕缺陷特征的凹凸方向;S300、根据压痕缺陷特征的凹凸方向以及瓦楞纸的结构建立瓦楞纸的三维模型,并进行有限元分析获取其抗压强度。本发明通过获取待测瓦楞纸正反两面的图像,定位压痕缺陷特征后获取压痕缺陷特征图像并对其进行二值化处理得到标准图像质心阵列,得出了一套完整的瓦楞纸表面压痕质量检测方法。
技术关键词
压痕缺陷 线阵CCD相机 图像 三维模型 拍摄系统 抗压强度值 瓦楞纸表面 二值化方法 光源 光斑 阵列 水平台 处理器 坐标 可读存储介质 存储器 电子设备 程序
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