一种基于光电二极管阵列的AWG芯片自动测试系统

本发明公开了一种基于光电二极管阵列的AWG芯片自动测试系统，包括光源发射模块，光源发射模块用于发射激光，并最终将耦合至AWG芯片的输入波导中；六轴控制平台，通过调整单模光纤FA位置，控制单模光纤FA准确耦合至AWG芯片；光源检测模块，包括若干光电二极管组成的PD阵列，PD阵列获取AWG芯片输出波导的信息；上位机，数据采集系统所采集的数据传输至上位机进行处理和显示，以CWDM芯片为例，本发明通过分别采集芯片内四个通道的光功率，可计算出该芯片的插损、中心波长、带宽、串扰等，从而判断该芯片是否达到标准。在此过程中，由于AWG芯片为无源器件，因此芯片两端的输入和输出波导通过对准的方式进行光传输，若对准失误则易产生较大的损耗。