芯片断电的检测方法、装置和电子设备

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芯片断电的检测方法、装置和电子设备
申请号:CN202411675269
申请日期:2024-11-21
公开号:CN119511035A
公开日期:2025-02-25
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种芯片断电的检测方法、装置和电子设备。该方法包括:通过芯片的模数转换器检测端口采集芯片每个目标时刻对应的电源电压,其中,每两个目标时刻之间的时间间隔为预定时间间隔;计算相邻两个目标时刻对应的电源电压的差值的绝对值,并计算差值的绝对值与预定时间间隔的比值,得到电压变化速率;在电压变化速率大于预设阈值的情况下,确定芯片存在断电风险并备份芯片数据,其中,断电风险表示芯片存在断电的风险,芯片数据包括芯片中的所有数据。通过本申请,解决了现有技术中在芯片内部未集成降压中断功能的情况下,无法检测芯片是否断电的问题。
技术关键词
数据存储区域 电压 模数转换器 电源 风险 速率 备份 标识 可读存储介质 回归分析法 端口 电子设备 检测芯片 程序 计算机 采集单元 存储器 处理器
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