一种无损测量材料密度和孔隙率的方法及装置

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一种无损测量材料密度和孔隙率的方法及装置
申请号:CN202411679931
申请日期:2024-11-22
公开号:CN119595493A
公开日期:2025-03-11
类型:发明专利
摘要
本发明涉及材料物理性能技术领域,公开一种无损测量材料密度和孔隙率的方法及装置,该方法包括:获得材料质量和材料三维体积数据;根据材料三维体积数据,获得材料轮廓ROI材料和孔隙轮廓ROI孔隙;根据材料轮廓ROI材料和孔隙轮廓ROI孔隙,获得材料体积V材料和孔隙体积V孔隙;根据材料质量、材料体积V材料和孔隙体积V孔隙,获得材料密度和孔隙率。本发明可同时实现材料的密度和孔隙率测量,而且既支持单件测量,也支持多件同时测量。
技术关键词
X射线投影图像 工业CT系统 轮廓 边缘检测算法 分布直方图 物理性能技术 密度 CT检测 填充算法 旋转轴 陶瓷基复合材料 校准 材料孔隙率 探测器 数据 标准件 灰度直方图 参数 转台 成像
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