一种二次设备性能评估方法、装置、电子设备及存储介质

本发明公开了一种二次设备性能评估方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：根据目标调试项对二次设备进行全面调试，并获取在全面调试过程中二次设备产生的反馈信号的信号集合；对信号集合中的反馈信号进行解析，并根据解析结果确定信号集合的特征全域显著聚合表示向量；根据特征全域显著聚合表示向量以及预先确定的性能评估模型，对二次设备的性能进行评估。上述方案，通过对在二次设备的全面调试过程中获取到的反馈信号的信号集合进行解析，进而得到更具代表性的特征全域显著聚合表示向量，并根据特征全域显著聚合表示向量与性能评估模型对二次设备的性能进行评估，可以减少人为因素对性能评估造成的影响，提高评估结果的准确性和可靠性。