智能卡芯片的质量检测方法以及系统

本发明提供了一种智能卡芯片的质量检测方法以及系统，包括：采集智能卡芯片的电信号数据，得到采集数据；对所述采集数据进行特征提取处理，得到包括信号强度特征、信号频率特征和信号波形特征的特征数据；将所述特征数据分类为正常特征数据和异常特征数据；对各个所述异常特征数据之间的关联关系进行分析，得到关联分析结果；根据所述关联分析结果进行故障定位处理，确定智能卡芯片的质量问题所在位置，得到质量检测结果。在本发明中，通过对各个异常特征数据之间的关联关系进行分析，得到关联分析结果，并进行故障定位处理，确定智能卡芯片的质量问题所在位置，克服当前无法准确判断芯片质量问题的根源的缺陷。