一种设备测试数据计算方法、系统、存储介质及电子设备

本公开属于自动化测试技术领域，提供了一种设备测试数据计算方法、系统、存储介质及电子设备，所述方法包括获取被测试设备的测试数据，根据测试数据，生成特征数据和标签数据；将特征数据转换为特征向量，将标签数据转换为标签向量，使用特征向量和对应的标签向量生成样本数据，并确定样本集；使用样本集迭代训练弱分类器，并计算每个弱分类器的模型权重，根据所有弱分类器和弱分类器对应的模型权重，生成分类模型；将特征向量输入分类模型，分类模型根据特征向量输出标签向量，根据标签向量，对测试数据进行计算，得到测试数据计算结果。本公开中实现了通过标签向量确定层级，针对层级进行计算，减少了计算量、计算时间，降低了存储空间的占用。