用于芯片的模拟量测量电路和模拟量测量设备

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用于芯片的模拟量测量电路和模拟量测量设备
申请号:CN202411684245
申请日期:2024-11-22
公开号:CN119511036A
公开日期:2025-02-25
类型:发明专利
摘要
本申请涉及芯片技术领域,公开了一种用于芯片的模拟量测量电路和模拟量测量设备。模拟量测量电路包括:控制电路、正高压开关电路、正低压开关电路和模拟量开关电路;正高压开关电路与芯片的测试引脚和控制电路连接,用于响应控制电路生成的第一控制信号,使芯片的测试引脚与待测正高压的输出端连通;正低压开关电路与芯片的测试引脚和控制电路连接,用于响应控制电路生成的第二控制信号,使芯片的测试引脚与待测正低压的输出端连通;模拟量开关电路与芯片的测试引脚和控制电路连接,用于响应控制电路生成的第三控制信号,使芯片的测试引脚与待测模拟量的输出端连通。本申请能够降低芯片的设计难度,减少芯片面积的浪费,实现芯片的小型化。
技术关键词
电平转换电路 高压开关电路 芯片 PMOS管 上拉电路 低压 输出端 栅极 逻辑控制电路 衬底 NMOS管 信号 微控制器 电阻 电源
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