用于芯片的模拟量测量电路和模拟量测量设备

本申请涉及芯片技术领域，公开了一种用于芯片的模拟量测量电路和模拟量测量设备。模拟量测量电路包括：控制电路、正高压开关电路、正低压开关电路和模拟量开关电路；正高压开关电路与芯片的测试引脚和控制电路连接，用于响应控制电路生成的第一控制信号，使芯片的测试引脚与待测正高压的输出端连通；正低压开关电路与芯片的测试引脚和控制电路连接，用于响应控制电路生成的第二控制信号，使芯片的测试引脚与待测正低压的输出端连通；模拟量开关电路与芯片的测试引脚和控制电路连接，用于响应控制电路生成的第三控制信号，使芯片的测试引脚与待测模拟量的输出端连通。本申请能够降低芯片的设计难度，减少芯片面积的浪费，实现芯片的小型化。