一种基于RUN优化算法的宇称时间对称成像模型

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一种基于RUN优化算法的宇称时间对称成像模型
申请号:CN202411688971
申请日期:2024-11-22
公开号:CN119335740B
公开日期:2025-06-20
类型:发明专利
摘要
本发明提出了一种基于RUN(RUNge Kutta optimizer,龙格库塔优化器)的宇称时间对称(Parity Time Symmetry)成像模型,包括:点光源、两组多层膜、空气层,其中两组多层膜满足PT对称特性。点光源发出的光线,在两组多层膜之间发生负折射,从而在出射端生成图像。优化模块分析图像信号,并利用RUN优化器来调整多层膜的介电常数及厚度。本发明能够有效减少像差,实现理想无像差成像;与现有的模型相比,本发明采用更少的材料,工艺更加简单,不需要设定其它数据;与现有其它元启发式优化算法相比,本发明在PT对称成像模型设计方面表现出更高的效率,具有较快的收敛速度、陷入局部极值的概率低、对不同介电参数适应性强,能够充分发挥PT对称成像系统的成像能力。
技术关键词
多层膜 点光源 成像 空气层 粒子 算法 位置更新 图像 阶段 优化器 参数 反射率 模块 极值 信号 因子 机制 损耗 矩阵 数值
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