自动化测试SPI外设的方法和装置

本发明涉及自动化测试SPI外设的方法和装置，基于设计的上位机与下位机测试架构与测试方式，测试的灵活性高，可根据需求自定义参数，灵活生成各种SPI信号；测试更全面，支持随机数据以更好的验证SPI外设的抗压性和鲁棒性，还能发现潜在的边界条件和异常情况，确保车载系统的稳定性和可靠性；使用范围广且复用性强，具有SPI（主机/从机）设备的MCU均可进行测试；测试操作简单，测试效率高且成本低，单芯片还可以自测试以减少干扰。