一种CLB模块的功能测试故障定位方法、系统及设备

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一种CLB模块的功能测试故障定位方法、系统及设备
申请号:CN202411699783
申请日期:2024-11-26
公开号:CN119199489B
公开日期:2025-02-28
类型:发明专利
摘要
本发明涉及FPGA芯片测试技术领域,尤其涉及一种CLB模块的功能测试故障定位方法、系统及设备。包括:将CLB模块按照测试需求进行划分区块,对所述CLB模块进行快速性测试,判断所述CLB模块是否通过快速性测试,若通过快速性测试则将测试信息发送至所述上位机,测试结束,若没有通过,确定故障所在的故障区块;对所述故障所在的故障区块进行分割,获得分割后的故障区块;将所述分割后的故障区块进行故障精查找,确定故障点坐标。本发明通过使用FIFO的IP核对CLB模块进行检测,解决了CLB模块检测过于缓慢的技术问题,达到了提升测试效率的技术效果,适用于量产FPGA批量化测试。
技术关键词
测试板卡 故障定位方法 FPGA芯片 数据 测试覆盖率 主控板卡 信号 生成随机 坐标 故障定位系统 测试模块 烧写软件 仿真器 处理器 分区 程序 指令
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