一种双金属结构探针

本申请公开了一种双金属结构探针，属于芯片检测技术领域。主要包括探针机构，该探针机构具有PCB板，所述PCB板上安装有探针座，所述探针座上开设有多组安装槽；探针组，所述探针组包括：第一金属探针，所述第一金属探针的一端突出所述探针座的表面并形成弧形部，所述弧形部上设置有检测头；所述第一金属探针的弧形部上设置有弧形的长槽，所述长槽内设置有第二金属探针，所述第一金属探针及所述第二金属探针采用热膨胀系数不同的金属用特殊压延工艺制成带料。本申请的一种双金属结构探针，通过移动触摸传感器到达指定位置，以检测是否与第一金属探针的检测头接触，并根据感应结果判断第一金属探针的检测头是否磨损或变形。