基于多光谱成像的EVA高浓度色母粒检测方法

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正文
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基于多光谱成像的EVA高浓度色母粒检测方法
申请号:CN202411720512
申请日期:2024-11-28
公开号:CN119223817B
公开日期:2025-03-11
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种基于多光谱成像的EVA高浓度色母粒检测方法,包括以下步骤:S1:在生产线上设置可调节的多色LED光源,并使用多光谱成像仪获取色母粒的多光谱图像,得到光谱数据集;S2:基于色母粒成分识别模型从光谱数据集中提取光谱,识别不同成分或杂质的光谱特征;S3:构建色母粒色差检测模型和缺陷识别模型,并基于光谱特征,分别进行色差检测和缺陷识别;S4:基于实时图像色差检测和缺陷识别结果,基于智能体反馈控制生产线的控制系统,实现自动化调节;S5:基于色差检测和缺陷识别结果进行可视化,使操作员能够获取实时色母粒检测结果,并对不合格产品进行报警处理。本方案实现对EVA高浓度色母粒的高效和精确的监控,确保生产的智能化和产品的高质量。
技术关键词
高浓度色母粒 多光谱成像仪 光谱校正 样本 成分分析 反射光谱数据 协方差矩阵 实时图像 优化控制策略 色差误差 强化学习算法 颜色 PID控制器
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