摘要
本发明提供一种IGBT寿命预测方法、装置、系统以及存储介质,属于器件预测技术领域,方法包括:对原始IGBT器件老化历史数据点的预处理得到预处理后IGBT器件老化历史数据点;通过预处理后IGBT器件老化历史数据点构建IGBT退化模型;通过IGBT退化模型、预警阈值以及预处理后IGBT器件老化历史数据点对待预测IGBT器件数据点的预测分析得到IGBT寿命预测结果。本发明有效地弥补了粒子滤波中的粒子退化的缺陷,进而提高了IGBT寿命预测的精度,极大地提高了IGBT寿命预测的准确性。
技术关键词
器件老化
IGBT器件
寿命预测方法
预测误差
协方差矩阵
退化模型
方程
系统噪声
估计误差
粒子
数据
寿命预测装置
构建预测模型
可读存储介质
处理器
模块
存储器
系统为您推荐了相关专利信息
图像块
预训练模型
车辆异常检测方法
计算机执行指令
图像采集装置
取样机器人
路径规划方法
节点
激光雷达数据
障碍物
人体轮廓
历史轨迹数据
高危设备
智能预警方法
人体运动学模型