一种IGBT寿命预测方法、装置、系统以及存储介质

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一种IGBT寿命预测方法、装置、系统以及存储介质
申请号:CN202411722688
申请日期:2024-11-28
公开号:CN119740358A
公开日期:2025-04-01
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种IGBT寿命预测方法、装置、系统以及存储介质,属于器件预测技术领域,方法包括:对原始IGBT器件老化历史数据点的预处理得到预处理后IGBT器件老化历史数据点;通过预处理后IGBT器件老化历史数据点构建IGBT退化模型;通过IGBT退化模型、预警阈值以及预处理后IGBT器件老化历史数据点对待预测IGBT器件数据点的预测分析得到IGBT寿命预测结果。本发明有效地弥补了粒子滤波中的粒子退化的缺陷,进而提高了IGBT寿命预测的精度,极大地提高了IGBT寿命预测的准确性。
技术关键词
器件老化 IGBT器件 寿命预测方法 预测误差 协方差矩阵 退化模型 方程 系统噪声 估计误差 粒子 数据 寿命预测装置 构建预测模型 可读存储介质 处理器 模块 存储器
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