一种芯片测试任务确定方法、装置和存储介质

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正文
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一种芯片测试任务确定方法、装置和存储介质
申请号:CN202411727659
申请日期:2024-11-28
公开号:CN119761689B
公开日期:2025-09-02
类型:发明专利
摘要
本说明书实施例提供了一种芯片测试任务确定方法、装置和存储介质,在第三方芯片评价平台自动执行,并且所述方法包括:获取来自待评价芯片所属厂家的企业资质、检测报告和产品信息;在所述企业资质通过检测后,根据所述产品信息和预设车厂标准数据库,确定标准任务,所述标准任务用于指示相应类型芯片必须完成的测试任务;确定所述检测报告与所述标准任务是否匹配;以及在所述检测报告与所述标准任务不匹配时,以所述标准任务为测试任务。本申请提供的技术方案解决了现有技术信息差导致芯片厂的芯片测试结果和测试项目可能不被车厂认可的问题。本申请的技术方案能提高芯片测评效率。
技术关键词
芯片 报告 评价平台 数据处理模块 可读存储介质 项目 工况 检测机构 计算机 标志 处理器
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