一种非关联分组式存储器失效单元分析方法

本发明提供一种非关联分组式存储器失效单元分析方法，首先通过芯片测试机获得全部的存储器失效单元的位置信息，形成故障位图；然后针对故障位图中的位置信息特征，基于分组原则对故障位图中的所有故障单元进行分组，形成多故障组和单故障组；再基于存储器失效单元的修复原则对每个分组中的故障单元进行修复分析，判断该存储器芯片的失效单元是否可以修复；若该存储器芯片的失效单元可以修复，则给出修复解决方案。本发明基于非关联分组式存储器失效单元分析方法，将存储器芯片的所有故障单元分成相互独立的多故障组和单故障组，进而单独的分析查找每个故障组的冗余修复方案，能够更加合理的分配冗余资源，有效的提高了存储器失效单元的修复效率。