基于ZYNQ的大幅面物体表面缺陷检测方法、装置和系统

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基于ZYNQ的大幅面物体表面缺陷检测方法、装置和系统
申请号:CN202411735447
申请日期:2024-11-28
公开号:CN119666851B
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种基于ZYNQ的大幅面物体表面缺陷检测方法、装置和系统,包括:ZYNQ处理模块接收线阵相机发送的待测物体的实时表面图像,对实时表面图像进行解析,得到实时图像数据;提取实时图像数据并将实时图像数据与预设的参考数据进行比较,得到差值数据;根据差值数据和多个预设的阈值识别缺陷图像数据;对多场缺陷图像数据进行融合得到预处理图像,并将预处理图像发送给上位机。本发明通过ZYNQ处理模块对表面图像进行预处理,得到包含缺陷的预处理图像;使上位机无需处理原始的表面图像,可以直接处理预处理图像,减少了上位机的工作量,降低了上位机对性能的要求,从而降低了成本。
技术关键词
实时图像 线阵相机 物体表面缺陷 边缘检测 校正图像数据 DDR存储器 识别缺陷 千兆网络接口 ZYNQ芯片 形状特征参数 待测物体 模块 滤波算法 电源管理电路 输入输出接口 图像灰度值
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