一种SRAM的芯片抗扰度测试系统和方法

本公开提供了一种SRAM的芯片抗扰度测试系统和方法。该系统包括：上位机、测试板、FPGA监控单元和电磁干扰测试仪；上位机用于配置FPGA监控单元的测试参数，并获取FPGA监控单元实时反馈的读写结果进行展示；测试板用于承载待测SRAM芯片，至少包括干扰注入网络和信号连接接口；FPGA监控单元用于根据测试参数对待测SRAM芯片进行读写测试，将读写结果实时上传至上位机。本公开在进行测试过程中，上位机通过测试参数配置FPGA监控单元来执行不同的测试向量，而FPGA监控单元与待测SRAM芯片通信，并实时向上位机反馈读写结果，由上位机直观进行展示，实现灵活可控、直观可视的抗扰度测试流程。