一种芯粒模拟平台设计方法、装置、电子设备及存储介质

本申请公开了一种芯粒模拟平台设计方法、装置、电子设备及存储介质，涉及集成电路技术领域，方法包括：确定芯粒模拟平台的第一拓扑结构；第一拓扑结构包括控制器和多个芯粒节点；确定控制器的第二拓扑结构；控制器用于实现对芯粒模拟平台的运行控制；确定各个芯粒节点的第三拓扑结构；各个芯粒节点包括芯粒组件和外部组件；在芯粒模拟平台中配置待测试的多个芯粒节点；利用控制器控制待测试的多个芯粒节点进行测试。本申请的芯粒模拟平台和模拟流程，相比体系结构模拟器可以进行硬件级别的验证，得到更准确的实际芯粒行为，具备更高的运行速度，更容易支持各种类型芯粒；相比传统FPGA验证平台的搭建方法更为简单，更适合芯粒的设计模式。