光伏硅片缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质

本申请涉及一种光伏硅片缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：通过目标图像集对缺陷检测模型进行训练，得到训练好的缺陷检测模型；目标图像集包括标注了缺陷位置和缺陷类型的下料花篮图像；将待检测的下料花篮图像输入训练好的缺陷检测模型，得到待检测的下料花篮图像中硅片的缺陷位置和缺陷类型。缺陷类型包括硅片的缺片、碎片、错片和带液缺陷。其中，缺陷检测模型为优化YOLOv8s模型，优化YOLOv8s模型包括主干网络、特征融合网络和检测模块，主干网络中包括CBAM注意力模块。采用本申请的方法能够提高缺陷检测的准确性。